關於我們

About Everred

常鴻新科技為專業自動光學檢測之半導體設備商(Automated Optical Inspection，AOI)，擁有業界領先的設計及生產能力，整合光、機、電、軟、資通訊五大核心技術，開發高品質、高精度的半導體自動化設備，搭配多樣化服務，協助客戶有效平衡產能，解決品管自動化問題，應用涵蓋半導體Fab.、半導體封裝/先進封裝、發光二極體、光通訊、雷射二極體、陶瓷基板、橡膠環等產業。

  • 半導體Fab.
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  • 半導體封裝/先進封裝
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  • 發光二極體與矽電
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  • 光通訊
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  • 雷射二極體
    •
  • 陶瓷基板
    •
  • 橡膠環
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    Milestone

    2019

  • 推出AI彩色檢測方案
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    2018

  • 發表光通晶片四面檢測分選設備
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  • 推出高速3D Bumping檢測技術。
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    2017

  • 推出半導體產業 2D/3D 晶圓檢測設備 (8~12吋)。
  • 推出光通訊打線(W/B)封裝(D/B)檢測設備。

    • 2016

  • 推出CMP制程Pad 3D 檢測設備。
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  • 發表小尺寸Tape To Reel 5面測包設備。
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    2015

  • 推出2D Wafer Inspection (8~12”wafer)檢測設備。
  • 引進策略夥伴新睿科技資通訊技術，推出工業4.0技術服務。
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    2014

  • 推出全自動雷射刻印機，具備刻印與覆判功能。
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  • 受邀進入韓國釜山先進半導體(전력반도체산업)計畫AOI專項成員。
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  • 首次推出光通訊晶片檢測分選設備。
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    2013

  • 開發出半導體晶圓(6/8”)檢測設備，並通過SKYWORKS、展訊認證。
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    2012

  • 推出LED PSS、EPI、CoW、MASK檢測設備。
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    2011

  • 推出被動元件包裝後高速檢測設備，可達180k/h。
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  • 領先開發出超音波不破膜LED 晶片挑選設備，並實際成功導入產線。
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    2010

  • 推出全台第一台獨立式陶瓷散熱基板檢測設備。
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  • 推出超快速O-Ring全自動檢測設備。
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    2009

  • 引進美國NASA Mura 面板檢測技術強化軟體能量。
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  • 推出全自動 2~4” LED晶粒檢測設備。
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    2008

  • 常鴻新科技成立，推出自主軟體平臺AOI檢測技術。
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