OC705 光電晶片四面檢測分選設備 OC705為針對DFB/EML晶片所推出的四面檢測分選設備,豐富多樣的缺陷檢測以及高精度檢測端面脊柱及發光條,為光通訊晶片良率的最佳守護員。 Key Features DFB/EML晶片之四面檢測分選設備 奈米級高解析度光學學 高速檢測能力2> P/N圖形與多層圖形缺陷 端面脊柱及發光條上缺陷檢測