OC703 光電晶片四面檢測分選設備 OC703為針對高功率LD晶片所推出的四面檢測分選設備,豐富多樣的缺陷檢測以及高精度檢測端面與發光條技術,為光通訊晶片良率的最佳守護員。 Key Features 高功率LD晶片之四面檢測分選設備 奈米級高解析度光學 高速檢測能力2> P/N圖形與多層圖形缺陷 端面及發光條上缺陷檢測