SW232（二光）晶圓框架檢測設備主要用於【晶圓製造與封裝過程中的瑕疵檢測】。它能夠檢測晶圓上的異物、劃痕、殘膠、圖形變形等缺陷，確保產品品質符合半導體製程的高標準。