OF213 光電晶片檢測分選設備 OF213針對光通訊單面晶片檢測的分選設備,透過正面檢測以及背面的超音波挑除設備,快速且高效的檢測分選功能,符合大量生產的品管要求。 Key Features VCSEL/PD晶片正面檢測背面超音波挑除設備 多組高解析度光學 高速檢測能力2> 檢測P/N圖形與多層圖形缺陷