OC212 光電晶片雙面檢測設備 OC212針對VCSEL/PD晶片所設計的正背面檢測設備,搭配高速光學鏡頭,檢測晶片正面與背面各種圖形缺陷,提供產線多樣化的檢測需求。 Key Features VCSEL/PD晶片正背檢測設備 多組高解析度光學 高速檢測能力2> 檢測P/N圖形與多層圖形缺陷